KDRB-X kısa devre empedansı test cihazı/Transformatör sargı deformasyonu test cihazı
KDRB-X transformatör sargısı deformasyon test cihazı, trafo dahili sargı karakteristik parametrelerinin ölçümüne göre, mevcut gelişmiş ülkelerin kullanılması, mükemmel dahili hata frekans yanıt analizi (FRA) yöntemi geliştirmektedir ve transformatör dahili arızasının doğru bir şekilde değerlendirilmesini sağlar.
KDRB-X transformatör sargısı deformasyon test cihazı tepki analizi yönteminin geliştirdiği transformatör sargı test cihazına göre 63kV~500kV güç trafosu dahili yapı hatası tespiti için uygundur.
KDRB-X transformatör sargı deformasyon test cihazı, transformatör iç sarım derecesini belirlemek için değişim değerinin boyutuna, frekans tepkisi değişim genliğine, alan ve frekans yanıtı değişim trendine göre kantitatif işlemden sonra değişen farklı frekans etki alanı yanıtındaki transformatör iç sarım parametresidir, Ardından, ölçüm sonuçlarına göre, transformatörün ciddi hasar görüp görmediği ve bunun giderilip giderilip giderimediği belirlenebilir.
KDRB-X transformatör sargı deformasyon test cihazı, bir dizüstü bilgisayar ve tek çipli bir mikro bilgisayar tarafından yüksek hassasiyetli bir ölçüm sisteminden oluşur. Yapısı kompakt, kullanımı basit ve nispeten eksiksiz bir test ve analiz işlevine sahiptir. Kullanım talimatlarına göre veya kısa süreli eğitimden sonra kendi kendine çalıştırılabilir.
KDRB-X kısa devre empedansı test cihazı/Transformatör sargı deformasyonu test cihazı
Teknik özellikler:
1.Yüksek hızlı ve yüksek entegre mikro işlemci, alım ve kontrol için kullanılır.
2.cihazda, dizüstü bilgisayar olmadan bağımsız kullanım için endüstriyel bir bilgisayar, USB arabirimi ve dizüstü bilgisayar bağlantısı bulunur.
3.cihaz, test sonuçlarını otomatik olarak analiz edip yargılayacak ve kaydetmek ve yazdırmak için elektronik belgeler (Word) oluşturacaktır.
4.Bu cihaz ayrıca DL/T911-2016 "Güç Transformatörü Sargısı deformasyonunun Frekans Tepkisi Analiz Yöntemi" ve DL/T1093-2008 "Reaktans yöntemiyle Güç Transformatörü Sargısı deformasyonunun tespit ve karar Verme Yönergeleri" güç standardının teknik koşullarını da karşılamaktadır.
5.Yüksek hızlı çift kanallı 16 bit A/D örnekleme (alan testi dokunma anahtarını değiştirir ve dalga formu eğrisi net bir şekilde değişir).
6.Frekans yanıt yöntemi donanım hareketi, DDS özel dijital yüksek hızlı frekans tarama teknolojisini (ABD) kullanır. Test aracılığıyla sargı bozulmasını, şişmesini, kaymasını, yatmayı, dönüşler arası kısa devre deformasyonunu ve faz kontağı kısa devresini ve diğer arızaları doğru şekilde tanılayabilir.
7.Frekans yanıt yöntemi, mevcut iki teknik ölçüm modu okuluyla uyumlu olan doğrusal tarama frekansı ölçümü ve segmental tarama frekansı ölçümü işlevine sahiptir.
8.Frekans yanıt yönteminin genlik ve frekans özellikleri, genlik ve frekans özellikleri test cihazının ulusal teknik göstergeleriyle aynı hizedir. Abscissa (frekans) iki tür doğrusal ve logaritmik indeksleme sağlar, böylece yazdırılan eğri doğrusal indeksleme eğrisi veya logaritmik indeksleme eğrisi olabilir, kullanıcılar gerçek ihtiyaçlara göre seçim yapabilirler.
9.EMPEDANSI yöntemi üç fazlı kablo ve tek fazlı ölçüm yöntemini kullanır. Yalnızca düşük gerilim tarafı kısa devre yapıyor ve yüksek gerilim tarafı tek seferde üç faza bağlı.
10.Empedans yöntemi gerilimi, akımı ve frekansı eşzamanlı olarak ölçebilir ve testin gerçek zamanlı dalga formunu görüntüleyebilir
11.Empedans yöntemi, dahili 220 V güç kaynağı veya harici güç kaynağı kullanabilir.
KDRB-X kısa devre empedansı test cihazı/Transformatör sargı deformasyonu test cihazı
Frekans yanıt yöntemi
Tarama modu |
1.Doğrusal tarama dağıtımı |
Tarama frekansı ölçüm aralığı |
(10Hz) - (10MHz) 40000 tarama frekans noktası, 0,25kHz, 0,5kHz ve 1kHz çözünürlük. |
Segmental tarama frekansı ölçüm dağılımı |
Tarama frekansı ölçüm aralığı |
(0,5kHz) - (1MHz), 2000 tarama frekans noktası;
(0.5 kHz) - (10 kHz)
(10 kHz) - (100 kHz)
(100 kHz) - (500 kHz)
(500kHz) - (1000kHz) |
Diğer teknik parametreler
Genlik ölçüm aralığı |
(-120dB) - (+20dB) |
Genlik ölçüm doğruluğu |
0,1 dB |
Tarama frekansı doğruluğu |
%0.01 |
Sinyal giriş empedansı |
1 MΩ |
Sinyal çıkışı empedansı |
50 Ω |
Sinyal çıkış genliği |
±20 V |
Faz içi testin tekrarlama oranı |
%99.9 |
Empedans yöntemi
Ölçüm doğruluğu |
Gerilim: %0.2 Akım: %0.2 |
Empedans aralığı |
%0 ~ 100 |
Gerilim ölçüm aralığı |
AC 25 V~500 V |
Akım ölçüm aralığı |
AC 0,1A~10A |
Çalışma nemi |
%0 ~ 80 |
Faz içi testin tekrarlama oranı |
%99.9 |