Doğrulanmış işletme lisanslarına sahip tedarikçiler
Denetlenen Tedarikçi | Optik Sistem | |
| Dalga boyu aralığı | 190 nm |
| Siyah beyaz | Sapma kötü C-T monkrometor. |
| Bileşenleri dağıtma | Düzlemsel kırınım ızgarası, 1800 çizgi/mm, puanlama alanı (40 * 40) mm2 |
| Spektral Bant Genişliği | 0.1, 0.2, 0.4, 1.0, 2,0 nm beş vites otomatik olarak seçilebilir |
| Dalga boyu doğruluğu | Tam bantta ±0,15 nm'den daha iyi |
| Dalga boyu tekrarlanabilirliği | Tam bant <0,10 nm |
| Taban Çizgisi Kayması | 0,004A/30dak |
| Dedektör | Yüksek hassasiyet, geniş spektral aralık fotoçoğaltıcı tüpü |
| Çözünürlük | Mangan lamp279,5 nm ve 279,8 nm (çift hat) ile enerjiyi %20'den az ayırt edebilir. |
| Işık standının elemanları | Lamba otomatik olarak dönüştürülür, manuel ayar gerekmez |
| Alev atomik sistemi | |
| Karakteristik viskozite (Cu) | 0,02 ug/ml/%1 |
| Algılama sınırı (Cu) | 0,001 ug/ml |
| Yakıcı | 100 mm titanyum metal brülör, hava soğutmalı, önceden karıştırılmış tip |
| Hassasiyet | RSD ≤%0.8 |
| Püskürtücü | Verimli cam atomizatörü |
| Püskürtme odası | Korozyona dayanıklı malzeme püskürtme bölmesi |
| Konum ayarı | Alev alev alev alev alev alev ucunun en iyi yüksekliği ve konumu otomatik olarak ayarlanır |
| Güvenlik sistemi | Birçok otomatik güvenlik özelliği vardır |
| Grafit ocağı atomizasyon sistemi | |
| Karakteristik Miktar (CD) | 0.5 × 10 - 12g |
| Algılama sınırı (CD) | 1.0 × 10 - 12g |
| Hassasiyet | RSD ≤%3 |
| Isıtma sıcaklığı aralığı | Oda sıcaklığı ~3000 ºC |
| Isıtma sıcaklığı kontrol yöntemi | Güç kontrol modu, ışık kontrollü maksimum güç modu kullanılarak atomizasyon aşaması kurutmak ve kül etmek |
| Sıcaklığın kontrol doğruluğu | doğruluk ≤%1 |
| Isıtma oranı | 2000 ºC/sn |
| Isıtma koşulu seti | 11'e kadar program, rampa ısıtması, kademe ısıları, maksimum güç ısıtma |
| Güvenlik koruması | Argon düşük gerilim göstergesine sahiptir, yeterli soğuk su yoktur, aşırı ısınma vardır. Aşırı akım alarmı ve otomatik koruma işlevi. |
| Arka plan düzeltme | |
| Dış mekan lambasının arka plan düzeltmesi | 1 A ≥ 30 kez |
| Özemilimin arka plan düzeltmesi | 1 A ≥ 30 kez |
| Veri işleme | |
| Ölçüm yöntemi | Hava asetilen alev yöntemi, hidrit jeneratörü atomik absorpsiyon yöntemi, oksijen bakımından zengin-hava asetilen alev yöntemi, grafit fırın yöntemi. |
| Konsantrasyon hesaplama yöntemi | Standart eğri yöntemi (1 kez), standart birleştirme kanunu yöntemi, interpolasyon yöntemi. |
| Ölçüm sürelerini tekrarla | 1 ~ 20 kez, tekrarlanabilirliği ölçmek için gereken ortalama değeri hesaplamak için standart sapma ve göreceli standart sapma otomatik olarak verilir. |
| Yazdırma sonuçları | Parametre yazdırma, veri yazdırma sonuçları, grafik yazdırma, özet rapor |
| Yumuşak ortam | Windows 98 / 2000 / XP / Win7 |
Doğrulanmış işletme lisanslarına sahip tedarikçiler
Denetlenen Tedarikçi 
